製品一覧PRODUCTS
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光デバイス測定装置
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近赤外分析装置
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元素分析装置
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XRF膜厚測定装置
分析装置
(光デバイス測定装置 / 近赤外分析装置 / 元素分析装置 / XRF膜厚測定装置)
近赤外分析装置
ニレコは40 年以上にわたり近赤外分析装置を取扱い、深い知見を有しています。
農業や食品産業、医薬品や化学プラントなどの研究開発分野や生産現場に向け、最適な近赤外分析装置を提供いたします。
SciAps社 ハンドヘルド型 元素分析装置
SciAps社は、2タイプのハンディ型元素分析計をラインアップ。ハンディ型の蛍光X線分析計で培われた技術をベースに測定が困難な元素の 測定にも対応可能なLIBS※を開発し、金属分析で難しいとされる「炭素C測定」の要望にもハンドヘルド型で実現しました。
お客様の様々な元素分析の要望に、ハンドヘルド型分析計で現場対応できる迅速分析をご提案致します。
Bowman社 XRF膜厚測定装置
Bowman社のXRF膜厚測定装置は、蛍光X線を使用して、めっき被膜などの膜厚とその組成を正確に測定いたします。サンプルの測定したい位置にX線を照射し、 これにより発生する被膜部と基材部からの蛍光X線を高精度検出器で検出することで測定を行います。基材を含め最大5層までの膜厚と組成を同時に測定することが可能です。
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