蛍光Ｘ線分析計　X-200シリーズ

概　要

Ｘ線蛍光分析計（ＸＲＦ）は試料にＸ線を照射することにより発生する各元素特有の蛍光Ｘ線を検出することにより、試料を構成する元素を同定するだけでなく、その成分比率も分析します。
ＸＲＦは原理的に非破壊・非侵襲の測定装置です。
アプリケーションとしては、ハンドヘルド型の特長を生かして、鉱業分野での採掘・試掘における鉱物分析、工業分野での資材等の金属や合金の同定・選別、RoHSやCPSIAなどの安全性適合テスト、SDG’s 分野でのスクラップ工場における廃材金属の同定・選別、環境分野での土壌汚染調査、さらにはその非侵襲の特性を生かして美術品や工芸品の判定など幅広い分野が想定されます。
X-200シリーズは普及版のモデルです。ハイエンド機とほぼ同等の測定性能を持ち、ユーザーインターフェースも同じです。測定される試料に合わせて２種類の光源を用意しております。
お客様の目的に合わせた本体ソフトウエア・ライブラリをご用意しているだけでなく、オプションのＰＣソフトウエアにより、お客様独自の検量線を作成いただくことも可能です。

ディスプレイ

X-200シリーズは3.5インチ液晶カラータッチスクリーンを採用しており、大きく高い視認性を誇ります。

仕　様

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